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電容會(huì)因?yàn)槭裁炊搪罚?

靜電放電（ESD, Electrostatic Discharge）和電擊穿(Dielectric Breakdown)能夠?qū)е沦N片電容短路，其原因在于靜電放電過程和過高電壓產(chǎn)生的瞬時(shí)高電流對電容器內(nèi)部結(jié)構(gòu)造成的破壞。

雖內(nèi)部疊層因高溫造成的融化和內(nèi)電極搭接，使原本絕緣的電容形成通路，造成電容短路。



機(jī)械裂（Mechanical Crack）可能導(dǎo)致電容器內(nèi)部電極層斷裂或移位。如果電極層斷裂后的一部分接觸到另一電極層，形成直接導(dǎo)通路徑，都會(huì)導(dǎo)致短路。

上圖電容已被應(yīng)力掰碎，黑色電極部分已有搭接風(fēng)險(xiǎn)，最終造成電容短路。