電容器的絕緣電阻（IR，Insulation Resistance）描述了其電極之間漏電流的大小。理論上，電容器的電極之間是完全絕緣的，因此電阻值應為無窮大。但實際上，由于介質(zhì)材料的特性，也總會存在微小的漏電流，導致有限的電阻值。
通過觀察電容的漏電電流，我們可以判斷電容是否產(chǎn)生漏電現(xiàn)象，從而對電容內(nèi)部是否損壞產(chǎn)生一個初步判斷。
當電容陶瓷的連續(xù)性被破壞，內(nèi)部裂痕使得介質(zhì)材料的結(jié)構(gòu)完整性受損，從而增加了電極之間的漏電路徑。
以上圖為基準，這時漏電電流較高，曲線在漏電電流部分上升，且不會趨于平穩(wěn)。
依據(jù)我司規(guī)格書中標準，假設(shè)現(xiàn)在取一顆C0805 X5R 106K 50V的電容對其進行計算絕緣電阻。當額定電壓≤50V時，絕緣電阻數(shù)值應大于10GΩ或100Ω·F（取兩者最小值）。第一項10GΩ很好理解，但第二項想要得到具體的數(shù)值，需要經(jīng)過以下計算：
公式中，CR對應數(shù)值為100Ω/F , C為電容的具體容值，此處為10μF。帶入數(shù)值后計算
因此，此電容型號的絕緣電阻值只要≥10MΩ即為合格。
得到理論絕緣電阻值后，我們可以根據(jù)簡單的歐姆定律來計算漏電流:
因此，此型號電容的漏電流只需要小于0.63μA即為合格。
